(资料图片仅供参考)
1、TTV是硅单晶片在厚度测量值中的最大厚度与最小厚度的差值，用户称作硅片的总厚度变化。这个差值是衡量硅单晶片优劣的一个重要标准。硅单晶片的薄厚片存在会影响硅片合格率及生产工艺，因此这对硅单晶片品质提出了更加严格的要求。
2、硅单晶片厚度分为标称厚度和总厚度变化。硅片中心点的厚度（TV），是指一批硅片的厚度分布情况。多个个厚度测量值中的最大厚度与最小厚度的差值称作硅片的总厚度变化（TTV）。
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